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SNE 4500M Plus

일반 전자현미경과 동등한 분해능,기능을탑재한 SEM SNE 4500M Plus

Type

Scanning Electron Microscope (SEM)

Model

SNE  4500M Plus

Manufacturer

SEC

Origin

Korea

Warranty

1 Year

Contact

0243.202.3000 or 0964.007.001

SNE 4500M Plus 

The Highest-end Tabletop SEM

I. Performance

1. Normal-SEM의 Module 소형화를 실현함으로써, 최대 15만배까지 영상을 관찰할 수 있는 경제적인 Tabletop-SEM입니다

2. 조건에 따라 쉽게 조작이 가능한 Variable Aperture 장착으로

3. 고 분해능인 5nm의 높은 Image Scan이 가능한 모델입니다.

  • SE (Secondary Eletron): 요철에 의한 정보로 이미지 형성. 주로 표면현상 관찰로 가장 널리 사용

  • BSE (BackScattered Eletron): 시편을 이루고 있는 성분(원자번호)에 의해 이미지가 형성

II. Convienience

Motorized Stage Auto Setting Navigation Mode
X, Y, Z, R, T (Fully motorized) Focus, Contrast, Brightness Top View CCD Camera

1. Tabletop SEM 유일 5축 구성으로 다양한 관찰이 가능합니다.

2. Motorized적용으로 화면에서 Double Click 이동이 가능하며, Navigation Mode 위치이동이 가능하여 측정 위치 찾기가 매우 편리합니다.

3. Tilting -45°~90° 사용으로 다양한 각도의 촬영 및 EDS 분석에 용이 합니다.

1. Accelerating Voltage

Max 30kV

2. Resolution

Plus A : 5nm (30kV, SE Image)

Plus B 5nm(SE), 8nm(BSE)

3. Magnification

20x – 150.000x

4. Detector

Plus A : SE(Secondary Electron)

Plus B : SE/BSE(back Scattered Electron) *Dual Detector

5. Electron Gun

Tungsten Filament

6. Aperture

30, 50, 50, 100 µm

7. Display Mode

2560x1920

8. Stage Tranverse

X: 40mm, Y:40mm, R: 360, Z: 0 – 40mm, T: 45 - 90. 5-axis motorized

9. Max. Sample Size

80mm in Diameter x 35mm in Height

10. Vacuum Mode

Plus A: High Vacuum

Plus B: High&Low Vacuum (Multi)

11. Sample Load Time

180 seconds

12. EDS System

Bruker, Oxford – UK

13. Dimension

390 x 737 x 590, 120Kg